特許
J-GLOBAL ID：200903066791004922
半導体集積回路のシミュレーション装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-053440
公開番号（公開出願番号）：特開平7-262263
出願日： 1994年03月24日
公開日（公表日）： 1995年10月13日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】シミュレーション対象回路の複数の内部回路の同時動作による回路の誤動作の有無を判定する。【構成】複数の回路ブロックの同時動作による相互干渉が存在する場合の同時動作シミュレーションを実行するシミュレーション部6と、この同時動作シミュレーション結果を判定する判定部7と、上記同時動作シミュレーションの実行に必要な上記相互干渉関連のデータを格納したライブラリ9とを備える。
請求項（抜粋）：
予め定めた機能単位毎にブロック化された複数の回路ブロックを含む半導体集積回路の前記回路ブロック毎のネットリストとテストパターンとを入力する入力手段と、前記回路ブロック毎の第1の動作特性対応の第1のシミュレーションを実行する第1のシミュレーション手段と、前記第1のシミュレーション結果を判定する第1の判定手段と、前記第1のシミュレーションの実行に必要な前記複数の回路ブロック関連の前記機能対応の第1のデータを格納した第1のライブラリとを備える半導体集積回路のシミュレーション装置において、前記複数の回路ブロックの同時動作による相互干渉が存在する場合の第2の動作特性対応の第2のシミュレーションを実行する第2のシミュレーション手段と、前記第2のシミュレーション結果を判定する第2の判定手段と、前記第2のシミュレーションの実行に必要な前記相互干渉関連の第2のデータを格納した第2のライブラリとをさらに備えることを特徴とする半導体集積回路のシミュレーション装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/60 360 D
, H01L 21/82 C
