特許

J-GLOBAL ID：200903066922950098

挟み込み検出方法および装置

発明者： 鈴木 勇
出願人/特許権者： 大同信号株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 香
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-101086
公開番号（公開出願番号）：特開2000-291337
出願日： 1999年04月08日
公開日（公表日）： 2000年10月17日
要約：

【要約】【課題】単体でも閉め切り跡の全域に亘って確実に挟み込みを検出する。【解決手段】挟み込み検出装置は、構造物10に対して装着可能に形成され送光部31および受光部32を格納した探子部30と、その送受光に基づいて反射位置までの距離を演算する測距部(50)と、構造物10に形成された開閉口の閉め切り跡における挟み込みについての判定処理を測距部の演算した距離に基づいて行う判定部(50)とを備える。この装置を構造物10の開閉口近傍に設置して、構造物10の開閉口を閉じたときにできる閉め切り跡に沿った送受光を行ってその反射位置までの距離を演算するとともに、その距離に基づき閉め切り跡における挟み込みについての判定処理を行う。これにより、閉め切り跡に沿って光が往復するとともに、その反射位置の情報に基づき的確な判定が下せる。

請求項（抜粋）：

構造物の開閉口を閉じたときにできる閉め切り跡に沿った送受光を行ってその反射位置までの距離を演算するとともに、その距離に基づき前記閉め切り跡における挟み込みについての判定処理を行うことを特徴とする挟み込み検出方法。

IPC (2件)：

E05F 15/20 ,  B61D 19/02

FI (2件)：

E05F 15/20 ,  B61D 19/02 T

Fターム (16件)：

2E052AA01 ,  2E052AA09 ,  2E052BA06 ,  2E052CA01 ,  2E052DA07 ,  2E052DB07 ,  2E052EA15 ,  2E052EB01 ,  2E052EC01 ,  2E052GA06 ,  2E052GB06 ,  2E052GC07 ,  2E052GD03 ,  2E052KA12 ,  2E052KA13 ,  2E052KA27