自動分析装置および自動分析装置におけるデータ管理方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：外川英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-170821
公開番号（公開出願番号）：特開2004-012442
出願日： 2002年06月12日
公開日（公表日）： 2004年01月15日
要約：

【課題】異常現象の影響が及ぶと考えられる他の測定項目に対しても所定のデータ・エラーコードを付加することによって、警告を発する。【解決手段】本発明は、反応セルに分注された前記被検試料と前記試薬との反応の測定を行う測定手段と、前記測定手段による測定中あるいは測定結果においてエラーを検知する検知手段と、前記検知手段によりエラーの検知された測定中の測定項目あるいは測定結果に対してエラー識別符合を付加する付加手段とを備え、前記付加手段は、該エラーにより測定に影響を受ける他の測定項目あるいはその測定結果に対してエラー識別符号を付加可能であることを特徴としている。【選択図】図9

請求項（抜粋）：

反応セルに分注された被検試料と試薬との反応の測定を行う測定手段と、前記測定手段による測定中あるいは測定結果においてエラーを検知する検知手段と、前記検知手段によりエラーの検知された測定中の測定項目あるいは測定結果に対してエラー識別符合を付加する付加手段とを備え、前記付加手段は、該エラーにより測定に影響を受ける他の測定項目あるいはその測定結果に対してエラー識別符号の付加が可能であることを特徴とする自動分析装置。

IPC (1件)：

G01N35/00

FI (1件)：

G01N35/00 F

Fターム (4件)：

2G058CB04 , 2G058CD04 , 2G058EA01 , 2G058GE10

引用特許：

審査官引用 (6件)

特許第3063564号
特公平3-052020
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-266044 出願人：株式会社日立製作所

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