特許
J-GLOBAL ID:200903066961668103

図形判別方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森本 義弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-307395
公開番号(公開出願番号):特開平6-162191
出願日: 1992年11月18日
公開日(公表日): 1994年06月10日
要約:
【要約】【目的】認識対象物の形状を特定して認識対象物の誤検出を防止する。【構成】S23で認識対象物の濃淡画像を2次元多値画像としてメモリに格納し、S24で2次元多値画像上に複数のサンプリング点を設定し、設定された各サンプリング点において、2次元多値画像平面上で、輝度が最も大きく変化する方向の偏角、及び、輝度が最も大きく変化する方向の変化量である輝度勾配の大きさとを求め、輝度勾配の大きさを偏角別に累算することによって、S25で偏角に対応する輝度勾配の累算値を頻度とした偏角ヒストグラムを作成する。この偏角ヒストグラムからS29でフーリエ級数式を求め、このフーリエ級数式の各要素の周波数の出現数を周波数別に累算することによって、S31で周波数の出現数を頻度とした周波数ヒストグラムを作成する。この周波数ヒストグラムを基に、S32で頻度が最大となる周波数を求め、その周波数からS33で図形形状を特定する。
請求項(抜粋):
認識対象物の濃淡画像を2次元多値画像としてメモリに格納する第1の工程と、前記2次元多値画像上に複数のサンプリング点を設定する第2の工程と、前記第2の工程で設定された各サンプリング点において、前記2次元多値画像平面上で輝度が最も大きく変化する方向の偏角、および、輝度が最も大きく変化する方向の変化量である輝度勾配の大きさを求める第3の工程と、前記輝度勾配の大きさを前記偏角別に累算することによって、前記偏角に対応する輝度勾配の累算値を頻度とした偏角ヒストグラムを作成する第4の工程と、前記第4の工程の偏角ヒストグラムにおいて頻度が極大となる偏角を全て求め、この極大となる偏角の個数によって図形の形状を判定する第5の工程とを有する図形判別方法。
IPC (3件):
G06F 15/70 370 ,  G06F 15/62 405 ,  H05K 13/04
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭59-030174
  • 特開昭58-018776
  • 特開昭59-030174
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