特許

J-GLOBAL ID：200903066963633013

長さまたは距離の測定方法と測定用の較正治具

発明者： 久保 泰康 ,  岡橋 善一 ,  横山 晴彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岡崎 謙秀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-092256
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294216
出願日： 1994年04月28日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：

【要約】【構成】 撮像装置による光学的な平面上の長さまたは距離の測定方法であって、平面部とその平面部に平行な面に端部を有する脚部とを備えた較正治具(301)を被測定対象部上に配置し、較正治具の画像上の座標値と較正治具の既知寸法とから撮像装置光軸に対する被測定対象部平面の三次元の傾きを求め、この傾きによる較正で被測定対象部の長さまたは距離を測定する。また、そのための較正治具は平面部と放射状脚部とを備えてもいる。【効果】 一般的にはカメラ光軸と対象平面とが厳密に直交していない場合、そのカメラ画像から正確な2点間の長さを求めることはできないが、これを厳密に直交させることなく、簡易な治具を用いて、光軸に対する対象平面の角度を計算上の処理によって容易に求め、正確な2点間の長さを求めることが可能となる。また、較正治具は、この方法を精度よく実施する上で必要な構成を、最も簡易な形態で有している。

請求項（抜粋）：

撮像装置による光学的な平面上の長さまたは距離の測定方法であって、平面部とその脚部とを備えた較正治具を被測定対象部上に配置し、較正治具の平面部の基準点と、脚部端点の画像上の座標値を読み取り、この座標値と較正治具の既知寸法とから撮像装置光軸に対する被測定対象部平面の三次元の傾きを求め、この傾きによる較正で被測定対象部の長さまたは距離を測定することを特徴とする長さまたは距離の測定方法。

IPC (2件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/02

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特表平3-505924
  
• 特開昭60-052703
  
• 特開昭61-277012
  

審査官引用 (3件)

• 特表平3-505924
  
• 特開昭60-052703
  
• 特開昭61-277012