特許
J-GLOBAL ID:200903066986293856
レチクル
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴木 章夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-121054
公開番号(公開出願番号):特開2001-296650
出願日: 2000年04月17日
公開日(公表日): 2001年10月26日
要約:
【要約】【課題】 矩形パターンを露光するためのレチクルにおいて、露光工程を煩雑化することなく、しかも高精度なパターン露光を可能にしたレチクルを提供する。【解決手段】 第1の透明基板101の表面に光透過率の低い材料で第1のパターン102が形成された第1基板100と、第2の透明基板201の表面に所要の光透過率の材料で第2のパターン202が形成された第2基板200とを備え、前記第1のパターン102と前記第2のパターン202とを向かい合わせにして前記第1基板100と第2基板200とを接合材料301等により一体化し、前記第1のパターン102と第2のパターン202との重なる矩形パターンPの領域を遮光パターンとして構成する。矩形パターンPの角部は、第1のパターン102と第2のパターン202の辺の交差によって構成されるので、従来のようにレチクルに光不透過膜を用いて矩形パターンを形成する場合のような、パターン寸法の縮小に伴って角部が丸くなるようなこともなく、高精度な矩形パターンのレチクルを得ることができる。
請求項(抜粋):
第1の透明基板の表面に光透過率の低い材料で第1のパターンが形成された第1基板と、第2の透明基板の表面に所要の光透過率の材料で第2のパターンが形成された第2基板とを備え、前記第1のパターンと前記第2のパターンとを向かい合わせにして前記第1基板と第2基板とを一体化し、前記第1のパターンと第2のパターンとが重なる領域を遮光パターンとして構成したことを特徴とするレチクル。
IPC (2件):
FI (2件):
G03F 1/08 K
, H01L 21/30 502 P
Fターム (5件):
2H095BB02
, 2H095BC09
, 2H095BC10
, 2H095BC11
, 2H095BC28
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