特許
J-GLOBAL ID：200903067031400417
粒子画像分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西野 卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-377845
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180347
出願日： 1998年12月10日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 記憶した多数の画像の中から、表示させたい画像を分布上で指定することによって容易に表示することが可能な粒子画像分析装置を提供すること。【解決手段】 上記の粒子画像分析装置は、撮像により得られた各粒子像について、少なくとも一つの特徴パラメータを算出するパラメータ算出手段と、各粒子像について粒子像と特徴パラメータとを関連づけて記憶する記憶手段と、特徴パラメータの分布図を作成する分布図作成手段と、分布図内の任意の領域を指定する指定手段と、指定手段によって指定された領域内の特徴パラメータに対応する粒子像を記憶手段から読出す読出し手段と、読出した粒子像を表示する表示手段とを備える。
請求項（抜粋）：
撮像により得られた各粒子像について、少なくとも一つの特徴パラメータを算出するパラメータ算出手段と、各粒子像について粒子像と特徴パラメータとを関連づけて記憶する記憶手段と、特徴パラメータの分布図を作成する分布図作成手段と、分布図内の任意の領域を指定する指定手段と、指定手段によって指定された領域内の特徴パラメータに対応する粒子像を記憶手段から読出す読出し手段と、読出した粒子像を表示する表示手段とを備えてなる粒子画像分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/02 B
, G01N 15/14 K
