特許
J-GLOBAL ID：200903067081686060
粒度分布測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-275360
公開番号（公開出願番号）：特開2003-083868
出願日： 2001年09月11日
公開日（公表日）： 2003年03月19日
要約：
【要約】【課題】 画像処理により測定対象物の粒度を正確に求めることができる粒度測定方法を提供する。【解決手段】 まず、粒径選別処理においては、原画像の各画素ごとに当該画素の廻りに隣接する画素の平均輝度を当該画素の輝度とするぼかし処理を複数回繰り返す。そして、ぼかし画像の輝度レベルを調整(原画像の輝度レベルに合わせる)後、原画像との差分を求めることにより小粒径のみ強調(原画像から大粒径と中粒径をカット)することができる。こうして輝度むらの影響を受けることなく各粒径の判別が可能となる。次に、各粒径ごとに選別された画像をそれぞれに対応する閾値を用いて2値化して2値化画像を得、2値画像から面積(粒子径に対応)毎に、粒子数をカウントし、重量換算することにより仮の粒度分布を得る。
請求項（抜粋）：
測定対象物を撮像装置により撮像し、撮像された原画像から、当該原画像にぼかし処理を行ったぼかし画像を得て、当該ぼかし画像を2値化処理することにより、所定粒径以上の測定対象物の粒径の分布を測定すると共に、前記撮像された原画像とぼかし画像の差分により形成された差分画像を2値化処理することにより、前記所定粒径未満の測定対象物の粒径の分布を測定し、これら2種類の粒径測定分布の測定結果に基づいて、全体の粒径分布を測定することを特徴とする粒度分布測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/02 B
, G01N 33/22 A
