特許
J-GLOBAL ID：200903067121798401
電子表示セルの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中川 國男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-313982
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145629
出願日： 1994年11月24日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】 電子表示セル(透明体)の積層構造、特に透明電極の有無や形状の良否を画像処理技術によって行えるようにする。【構成】 電子表示セルに対して検査用の光を入射させ、入射した光の一部を電子表示セルの境界面で反射させることによって、反射光または透過光の明るさを電子表示セル(透明体)の層の状態に関連させておき、上記反射光または透過光を工業用テレビカメラによって画像信号に変換して1フレームの画像データとして記憶し、画像データの輝度ヒストグラムから積層構成に固有な輝度間でしきい値を決定し、このしきい値により画像データを2値化し、この2値化画像の形状から電子表示セル(透明体)の積層状態の良否を判定する。
請求項（抜粋）：
電子表示セルを構成する透明体の積層状態の検査であって、上記電子表示セルに対して上方から均一な検査用の光を入射させ、その入射した光の一部を電子表示セルを構成する透明体の境界面で反射させることによって、反射した光または透過した光の明るさを電子表示セルを構成する透明体の層の状態に関連させておき、上記反射した光または透過した光を工業用テレビカメラによって画像信号に変換して1フレームの画像データとして記憶し、1フレームの画像データの輝度ヒストグラムから積層構成に固有な輝度の間でしきい値を決定し、このしきい値によって上記1フレームの画像データを2値化し、この2値化したパターンの形状から電子表示セルを構成する透明体の積層状態の良否を判定することを特徴とする電子表示セルの検査方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G06T 7/00
, H05K 13/02
