特許

J-GLOBAL ID：200903067149821948

X線CTスキャナ装置

発明者： 大川 敦 ,  日比野 浩樹 ,  水野 均
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-019242
公開番号（公開出願番号）：特開平10-211196
出願日： 1997年01月31日
公開日（公表日）： 1998年08月11日
要約：

【要約】【課題】従来のガントリを備えるX線CTスキャナ装置では、断層撮影の度にガントリ内に被検体を入れなければならず、ガントリによるスペース的な問題から被検体への処理が中断され、被検体に対して円滑な処理を行いつつ、その処理箇所を断層撮影により確認することは困難であった。【解決手段】本発明は、走査型X線源2と2次元X線検出器5とを対向させて、相対的な移動を可能とする支持体16により連結され、被検体11の三方以上の周囲に十分なスペースが生まれる。得られる投影データが3次元データであり、指示部15によるスライス位置の指定で所望の断層像が表示される。表示部12の画面上で指示部15により走査型X線源での走査開始位置及び終了位置と2次元X線検出器でのディテクタの開始位置及び終了位置との指定することにより、角度が自由に設定されたスライス面の断層像が短時間で得られる。

請求項（抜粋）：

X線を放射するX線放射点が2次元走査可能に設けられる走査型X線源と、前記走査型X線源との間に被検体を介在させて設置され、前記X線放射点のX線放射面に対向するように配置される2次元走査可能な2次元X線検出手段と、前記走査型X線源の各X線放射点からX線が順次放射されるように走査させる走査制御手段と、前記2次元X線検出手段が順次、検出した投影データを収集するデータ収集手段と、収集した前記投影データから3次元の断層像データを演算し、所望のスライス位置の断層像を生成する断層像生成手段と、を具備することを特徴とするX線CTスキャナ装置。

IPC (3件)：

A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 320 B ,  G06F 15/62 390 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• X線断層撮影方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-079177   出願人：株式会社島津製作所, 長野日本無線株式会社