特許

J-GLOBAL ID：200903067165453452

蛍光標識物の分布計測装置

発明者： 高橋 智 ,  押田 良忠 ,  保田 健二
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-181847
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005834
出願日： 2000年06月16日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】 高密度DNAプローブアレイに対応する分布計測装置を提供する。【解決手段】 ステージ20に載置したDNAプローブアレイ2上に複数の照射スポット101a,101b,...を形成し、ステージをXYに移動させて走査してDNAプローブアレイのほぼ全面を照射する。DNAプローブアレイ上の複数の照射スポット部より生じる複数の蛍光発光を集光し、マルチ検出器17により同時に検出し、検出した信号をデータ処理手段19で処理して画像を再構成する。

請求項（抜粋）：

基板上の試料面に捕捉された蛍光標識物の発光パターンを走査して読みとる蛍光標識物の分布計測装置において、読み取り対象の基板を載せるステージと、前記基板上の試料面に複数の照射スポットを当該照射スポットの径より大きな指定の間隔で形成する手段と、前記ステージを移動させる移動機構と、前記試料面上の複数の照射スポット部より生じる発光を集光し検出する集光検出手段と、前記複数の照射スポットの形成位置に応じて前記試料面のほぼ全面を照射するように前記移動機構を制御する制御手段と、前記集光検出手段からの信号を処理して前記試料面の画像を再構成する処理手段とを含むことを特徴とする蛍光標識物の分布計測装置。

IPC (7件)：

G01N 21/64 ,  G01N 31/22 121 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 102 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/58

FI (7件)：

G01N 21/64 F ,  G01N 31/22 121 P ,  G01N 33/53 M ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 102 ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/58 A

Fターム (45件)：

2G042AA01 ,  2G042BD12 ,  2G042BD20 ,  2G042CB03 ,  2G042DA08 ,  2G042FA11 ,  2G042FB04 ,  2G042HA07 ,  2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GA06 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA06 ,  2G045AA35 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045FA11 ,  2G045FA12 ,  2G045FA29 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  2G045JA07 ,  2G045JA08 ,  4B063QA01 ,  4B063QA13 ,  4B063QA17 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR55 ,  4B063QR82 ,  4B063QS34 ,  4B063QX02