特許

J-GLOBAL ID：200903067171185320

表示パネルの欠陥検査装置

発明者： 藤田 有司
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 藤本 博光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-215771
公開番号（公開出願番号）：特開平10-062302
出願日： 1996年08月15日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：

【要約】【課題】 本発明の表示パネルの欠陥検査装置は、表示パネルの画面の干渉縞が生じた画像から欠陥部のみを正確に検出することを目的とする。【解決手段】 液晶パネル点灯制御部2は、液晶パネル10を点灯し、バックライト1は、液晶パネル10を照明する。CCDアレイカメラ3は、液晶パネル10の画面を撮像し、画像メモリ4に記録する。差分処理部5は、画像メモリ4に記録された画像に対して、差分処理を行う。欠陥検出制御部6は、液晶パネル点灯制御部2と差分処理部5を制御し、液晶パネル10の画面の欠陥を検出する。モニタ7は、CCDアレイカメラ3にて撮像された液晶パネル10の画面の画像を表示し、データ入力部8は、画面に生じた干渉縞の間隔データを入力する。

請求項（抜粋）：

表示パネルを点灯させる点灯手段と、表示パネルの画面を撮像する撮像手段と、この撮像手段にて前記表示パネルの画面を撮像した際に生じた干渉縞の間隔データを入力するためのデータ入力手段と、撮像された前記表示パネルの画面の検査対象画素の明るさと、前記データ入力手段から入力された干渉縞の間隔データだけ離れた位置の画素の明るさとの差分を求める差分処理手段と、この差分処理手段の求めた差分に基づき、前記表示パネルの明るさを所定の値と比較して欠陥部を検出する欠陥検出手段とを具備することを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。