特許

J-GLOBAL ID：200903067171201570

多機能測定システム及び波形測定方法

発明者： 竹内 伸成
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 宮越 典明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-121563
公開番号（公開出願番号）：特開2003-319015
出願日： 2002年04月24日
公開日（公表日）： 2003年11月07日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】オシロスコープやネットワークアナライザを用いることなくビットエラー、伝達特性、及び信号波形が測定できるようにする。【解決手段】第1のパルスパターン発生手段9によって発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象3を介してエラーディテクタ8に入力する被測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムにおいて、エラーディテクタ8には、誤り検出手段12、制御/演算手段13、記録手段14及び表示手段20を備え、誤り検出手段12には、基準パルスパターン信号に同期したパルスパターンを発生する第2のパルスパターン発生手段と、被測定信号をスライスするスレッシュドレベルを可変設定する手段と、被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、スレッシュドレベル可変手段の出力と第のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段とを備える多機能測定システム。

請求項（抜粋）：

第1のパルスパターン発生手段によって発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象を介して測定装置に入力する被測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムにおいて、前記測定装置には、誤り検出手段、制御/演算手段、記録手段及び表示手段を備え、前記誤り検出手段には、前記基準パルスパターン信号に同期したパルスパターンを発生する第2のパルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュドレベルを可変設定するスレッシュドレベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段と、を備えることを特徴とする多機能測定システム。

IPC (4件)：

H04L 29/14 ,  G01R 27/28 ,  H04B 17/00 ,  H04L 1/00

FI (4件)：

G01R 27/28 Z ,  H04B 17/00 M ,  H04L 1/00 A ,  H04L 13/00 315 Z

Fターム (19件)：

2G028AA01 ,  2G028AA05 ,  2G028CG22 ,  2G028GL20 ,  2G028LR09 ,  5K014AA01 ,  5K014EA07 ,  5K014EA08 ,  5K014GA02 ,  5K035AA04 ,  5K035AA07 ,  5K035EE02 ,  5K035GG02 ,  5K035KK04 ,  5K042DA14 ,  5K042DA27 ,  5K042GA02 ,  5K042HA02 ,  5K042LA12