特許
J-GLOBAL ID：200903067185199722
低コントラスト欠陥検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-154273
公開番号（公開出願番号）：特開平9-006954
出願日： 1995年06月21日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：
【要約】【目的】対象物を撮像した画像からその外観上の欠陥を検出する装置で、元画像を走査した元画像信号10がノイズ変動分14を含んで変動し、且つ画像そのものも点線のようにゆるやかな変動を含んでいても安定に低コントラストの欠陥15を検出する。【構成】元画像信号10内の各画素濃度について当該着目画素を中心とする水平・垂直n×n画素からなる領域の画素濃度の平均値を着目画素の濃度レベルとすることで、元画像信号10を平滑化したn×n演算画像信号11を得る。次にこの画像信号11を、この信号上の各着目画素とこの着目画素からスパンdだけ離れた画素との濃度レベル差を所定閾値と比較することで2値化して2値画像信号13を得、2値化画素数を計数し欠陥を判別する。図では上記濃度レベル差|(Li )-(Li-d )|,|(Lj )-(Lj-d )|が閾値を越えたことを示す。
請求項（抜粋）：
対象物を2次元の撮像手段を介して撮像した映像画面から、この画面の水平・垂直方向に枡目状に並ぶ各画素ごとの多値の濃度を求め、対象物の外観上の欠陥を検出する装置であって、画面内の各画素について、各当該着目画素を中心とし水平及び垂直方向に夫々所定の複数nの画素からなるn×n画素領域の画素濃度の平均値(以下画素濃度レベルという)を求め、画像メモリの各当該着目画素に対応する画素領域へ格納する手段と、この画像メモリ内の指定された検査対象領域を走査するアドレス信号を発生する手段と、この走査によって読出された各画素を、各当該着目画素の画素濃度レベルと、同一走査線上で当該着目画素から所定画素数分の距離だけ離れた画素の画素濃度レベルとの差の絶対値が所定の閾値を越えるか否かに応じて2値化する手段と、この2値化された画素を計数する手段と、この計数値を所定の許容値と比較し対象物の良否を判定する手段とを備えたことを特徴とする低コントラスト欠陥検出装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F 15/68 320 Z
, G06F 15/68 350
, H04N 1/40 101 C
