特許
J-GLOBAL ID：200903067204676421
耐欠損性と耐摩耗性にすぐれたダイヤモンド被覆工具
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
富田 和夫
, 鴨井 久太郎
, 影山 秀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-099358
公開番号（公開出願番号）：特開2009-248249
出願日： 2008年04月07日
公開日（公表日）： 2009年10月29日
要約：
【課題】耐欠損性、耐摩耗性にすぐれたダイヤモンド被覆工具を提供する。【解決手段】 WC基超硬合金またはTiCN基サーメットからなる工具基体表面にダイヤモンド皮膜が被覆されたダイヤモンド被覆工具であって、ダイヤモンド皮膜は、配向ダイヤモンド皮膜と無配向ダイヤモンド皮膜との少なくとも3層以上の積層構造、あるいは、配向ダイヤモンド皮膜と高Σ3ダイヤモンド皮膜と無配向ダイヤモンド皮膜との少なくとも3層以上の積層構造からなり、前記配向ダイヤモンド皮膜の(110)面または(111)面は、傾斜角度数分布グラフにおける0〜10度の傾斜角区分で50%以上の度数を占め、また、前記Σ3ダイヤモンド皮膜は、上記に加え、さらに、構成原子共有格子点分布グラフにおいて、ΣN+1全体に対してΣ3が40%以上の分布割合を占める。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットで構成された工具基体表面にダイヤモンド皮膜が被覆されたダイヤモンド被覆工具において、
上記ダイヤモンド皮膜は、一層膜厚0.8〜5μmの配向ダイヤモンド皮膜と一層膜厚0.05〜0.5μmの無配向ダイヤモンド皮膜との少なくとも3層以上の積層構造からなり、さらに、前記配向ダイヤモンド皮膜は、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、基体表面に対し垂直な皮膜断面研磨面の測定範囲内に存在する結晶粒個々に電子線を照射して、前記基体表面の法線に対して、前記結晶粒の結晶面である(110)面および(111)面の法線がなす傾斜角を測定し、前記測定傾斜角のうち、0〜45度の範囲内にある測定傾斜角を0.25度のピッチ毎に区分すると共に、各区分内に存在する度数を集計してなる傾斜角度数分布グラフで表した場合、(110)面または(111)面の少なくともいずれかの面について、0〜10度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在すると共に、前記0〜10度の範囲内に存在する度数の合計が、傾斜角度数分布グラフにおける度数全体の50%以上の割合を占める傾斜角度数分布グラフを示すダイヤモンド皮膜であることを特徴とするダイヤモンド被覆工具。
IPC (5件)：
B23B 27/14
, B23B 51/00
, B23C 5/16
, B23B 27/20
, C23C 16/27
B23B27/14 A
, B23B51/00 J
, B23C5/16
, B23B27/20
, C23C16/27
3C037CC02
, 3C037CC09
, 3C037CC11
, 3C046FF03
, 3C046FF05
, 3C046FF12
, 3C046FF16
, 3C046FF22
, 3C046FF25
, 3C046HH08
, 4K030AA09
, 4K030AA17
, 4K030BA28
, 4K030BB12
, 4K030CA03
, 4K030FA17
, 4K030JA01
, 4K030JA10
, 4K030KA23
, 4K030LA22
