特許
J-GLOBAL ID：200903067219476771
飛行時間型質量分析計におけるイオン検知器の角度をつけた配列
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金倉 喬二
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-509970
公開番号（公開出願番号）：特表2001-523378
出願日： 1997年08月11日
公開日（公表日）： 2001年11月20日
要約：
【要約】静電デフレクター(11,12)は飛行時間型質量分析計内でイオンの飛行方向を制御し(41)、ドリフト区域の末端(28)に位置する検知器(40)まで到達させる。そこでは方向制御されたビーム(41)との関連で検知器(40)に傾斜がつけられ、それによって質量分析計の分析能力が向上する。
請求項（抜粋）：
飛行時間型質量分析装置を用いてイオン種を分析するための装置であって; 飛行管を有する飛行時間型質量分析器を具備し、該飛行管は軸を限定し; 優勢に前記軸に対しななめに向けられた均一電界を有するイオンビーム方向制御レンズを具備し、該方向制御レンズはこの方向制御レンズを通過するイオンパケットを偏向させ、前記イオンパケットは偏向角度の平面を形成し; 前記方向制御レンズは、おのおのが前記イオンパケットに影響を及ぼすフリンジ電界を低減するための開口部を有する入口および出口プレートを具備し; 飛行時間型質量分析器領域の終端に配置した前記イオンパケットを検出するためのイオン検出器を具備し、前記検出器は検出表面を有しており、前記検出器表面は前記イオンパケットの偏向角度と同じであり、前記検出器表面は前記イオンパケットの平面に平行であることを特徴とする。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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