特許

J-GLOBAL ID：200903067246115446

電池の電気化学的状態の非破壊分析法

発明者： 稲益 徳雄 ,  趙 毅 ,  中井 泉
出願人/特許権者： 株式会社ユアサコーポレーション ,  中井 泉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-035960
公開番号（公開出願番号）：特開平11-230919
出願日： 1998年02月18日
公開日（公表日）： 1999年08月27日
要約：

【要約】【目的】 非破壊で薄いフィルム型電池の電池活物質に含まれる元素の電子状態や局所構造の測定を複数箇所行うことにより、活物質の充放電状態やその2次元的分布を迅速に、かつ正確に、しかも簡便に把握し、正負極の容量バランスや集電の取り方といったような電池設計や電池の開発、改良に役立つ情報を得る分析手段を提供することを目的とする。【構成】 電池にX線を照射し、入射X線強度(I0 )とその電池を透過したX線強度(It )を測定することにより吸光度A=(ln(I0 /It ))を測定し、その電池活物質に含まれる金属元素の電子状態、電子構造、局所構造を解析することにより得られる情報(XAFS解析情報)より、その部位の電池における充放電状態を非破壊で観察する電池の電気化学的状態の非破壊分析法とすることで、上記目的を達成できる。

請求項（抜粋）：

電池にX線を照射し、入射X線強度(I0 )とその電池を透過したX線強度(It )を測定することにより吸光度A=(ln(I0 /It ))を測定し、その電池活物質に含まれる金属元素の電子状態、電子構造、局所構造を解析することにより得られる情報(XAFS解析情報)より、その部位の電池における充放電状態を非破壊で観察する電池の電気化学的状態の非破壊分析法。

IPC (2件)：

G01N 23/06 ,  H01M 10/48

FI (2件)：

G01N 23/06 ,  H01M 10/48 P

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-277745
  
• 特開昭63-053457
  
• 特開平1-277745
  
• 特開昭63-053457
  

引用文献：

審査官引用 (1件)

• “IN SITU X-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE STUDIES OF A MANGANESE DIOXIDE ELECTRODE IN A RECHARGEAB”