特許
J-GLOBAL ID:200903067281822112
画像処理装置および方法、並びに記録媒体
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
稲本 義雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-275034
公開番号(公開出願番号):特開2002-092625
出願日: 2000年09月11日
公開日(公表日): 2002年03月29日
要約:
【要約】【課題】 測定対象物体の光源による影響を補正することができるようにする。【解決手段】 対象物体テクスチャマッピング部21は、測定された対象物体の画像データと、形状データの対応付けを行う。参照物体テクスチャマッピング部22は、測定された参照物体の画像データと、参照物体の形状モデルの対応付けを行う。法線対応付け部24は、対象物体の法線データと、参照物体の法線データを比較し、対応する方向を持つ法線同士の対応付けを行う。光源影響除去部25は、法線対応付け部24での対応付けに基づいて、対象物体光源影響除去画像データを作成する。補正光源影響付加部26は、対象物体光源影響除去画像データに光源影響を付加して、対象物体補正画像データを作成する。
請求項(抜粋):
対象物体、および、形状と画像が既知の参照物体を測定することにより、前記対象物体の光源による影響を補正する画像処理装置において、前記対象物体の形状を測定する形状測定手段と、前記対象物体の画像を撮像する撮像手段と、前記形状測定手段により測定された前記対象物体の形状から対象物体法線ベクトルを作成する作成手段と、前記作成手段により作成された前記対象物体法線ベクトルと、前記参照物体の形状から得られた参照物体法線ベクトルの対応付けを行う対応付け手段と、前記対応付け手段による対応付けに基づいて、前記対象物体の画像を補正する画像補正手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
Fターム (7件):
5B050BA06
, 5B050BA13
, 5B050DA02
, 5B050DA10
, 5B050EA14
, 5B050EA18
, 5B050EA19
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
立体情報検出方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-248523
出願人:キヤノン株式会社
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画像処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-062996
出願人:松下電器産業株式会社
審査官引用 (2件)
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立体情報検出方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-248523
出願人:キヤノン株式会社
-
画像処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-062996
出願人:松下電器産業株式会社
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