超音波探傷装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高田守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-120038
公開番号（公開出願番号）：特開平7-325071
出願日： 1994年06月01日
公開日（公表日）： 1995年12月12日
要約：

【要約】【目的】探触子ヘッドと試験体のギャップが変わっても試験体の端から適正な位置にヘッドを倣わせることのできる超音波探傷装置を得ることを目的とする。【構成】探触子ヘッド4と試験片のギャップが大きくなった場合、倣いセンサー電圧はプラスとなるため、倣いセンサー比較回路17によりマイナス方向移動指令が出力され探触子ヘッド4は試験片内側へ移動する。この時、探触子2aはその探傷範囲に基準欠陥7aを捕らえるので欠陥エコーとなり、探触子2bは探傷範囲に基準欠陥7bがないため欠陥エコーは欠陥判定値にとどかない。そのため、探触子ヘッド位置校正制御回路15への欠陥信号は探触子2aの分のみとなり、探触子ヘッド位置が適正でないと表示回路14に表示される。

請求項（抜粋）：

試験体である鋼板の内部に、外側表面より繰り返し超音波を送信し、その試験体内部の欠陥から反射された超音波信号を受信する装置において、基準欠陥を所定の位置に設けた感度校正用の試験片と、探触子に対して送信パルスを送信し、又探触子によって超音波から変換された電気信号(受信信号)を受信する送受信回路と、前記送受信回路から出力されたエコーのうち探傷すべき範囲のエコーを取り出す欠陥エコーゲート回路と、前記欠陥エコーゲート回路により取り出された欠陥エコーを判定する欠陥エコー判定回路と、前記欠陥エコー判定回路に判定値を供給する欠陥エコー判定値設定回路と、前記欠陥エコー判定回路の判定結果を表示する表示回路と、感度校正時前記試験片に一定のギャップをもって接する探触子と、前記探触子を保持する探触子ヘッドと、前記探触子ヘッドに取り付けられた試験体の端部を捕捉するための倣いセンサーと、前記倣いセンサーの信号から端部迄の距離に相当する電圧を作る倣いセンサー信号変換器と、前記倣いセンサー信号変換器からの電圧と基準電圧を比較して探触子ヘッドの移動指令を作る倣いセンサー電圧比較回路と、前記倣いセンサー電圧比較回路に基準電圧を供給する基準電圧発生回路と、前記欠陥エコー判定回路の判定結果から探触子位置の適正有無を判定し、探触子の位置の校正指令を出力する探触子ヘッド位置校正制御回路とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。

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