特許

J-GLOBAL ID：200903067302712517

非接触板幅測定装置

発明者： 鈴木 昇 ,  原 久夫 ,  加島 史夫
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-094506
公開番号（公開出願番号）：特開平6-307816
出願日： 1993年04月21日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】 予め定められた投光部と受光部との間隔以上の幅を有する被測定物の板幅を測定できること。また透明な被測定物の板幅を測定できること。【構成】 投光部2,受光部3は、被測定物55の一方の面で幅方向に渡って設けられ被測定物55の端部を検出する。投光部2からは、所定幅L1の測定ビームBが出射され、被測定物55で反射された部分の光のみ受光部3で検出されて被測定物55の板端と板端との間隔である板幅Wに相当する幅が検出される。

請求項（抜粋）：

所定幅(W)を有する被測定物(55)の板幅を非接触で光学的に測定する板幅測定装置であって、該被測定物の一方の面の端部に配置され、被測定物に対し所定角度(α1)、及び被測定物の幅方向に所定幅(L1)を有して測定ビーム(B)を出射する投光部(2)と、前記被測定物の一方の面でかつ該投光部と同一面に設けられ、該投光部から出射された測定ビームのうち被測定物により反射された測定ビームを受光する受光部(3)と、該受光部による測定ビームの受光状態により被測定物の板端を検出し、被測定物の板幅を演算する演算部(30)とを具備する非接触板幅測定装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭59-000605
  
• 特開昭59-000605
  
• 特開昭59-000605