特許
J-GLOBAL ID：200903067380918091
高調波測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-360709
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180484
出願日： 1998年12月18日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 過渡時を含む任意のときに高次までの高調波を簡易な回路構成により正しく計測することのできる高調波測定装置を提供する。【解決手段】 入力信号を固定周波数でサンプリングし(ST1)、周波数を測定し、(ST2)、測定した周波数に対応するサンプリング数Nを丸め法によって算出する(ST3)。この後、N個のデータによってDFT演算により高調波測定を行う。
請求項（抜粋）：
入力信号の周波数を測定する周波数測定手段と、入力信号を所定の固定周波数でサンプリングする固定サンプリング手段と、測定周波数mサイクル分(m>1)のサンプリング数Nを丸めにより求めるN算出手段と、サンプリング数NのデータによりDFT演算で高調波成分の測定を行うDFT演算手段と、を備えてなる高調波測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 23/20 C
, G01R 29/00 F
