特許
J-GLOBAL ID：200903067391144624
光ピックアップ用アクチュエータの副共振測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
朝日奈 宗太
, 秋山 文男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-180135
公開番号（公開出願番号）：特開2005-018972
出願日： 2004年06月17日
公開日（公表日）： 2005年01月20日
要約：
【課題】組立てが非常に安価に製作することができ、光ピックアップの生産ラインでアクチュエータの副共振を実時間で測定することができ、小型化を実現することが可能な副共振測定装置を提供する。【解決手段】本発明の副共振測定装置は、レーザ光源と、該レーザ光源からの光を2本の光ビームに分割し、その1本の光ビームをその内部で一部反射させ一部透過させる基準面、および残りの光ビームを散乱させる拡散面を有する光分割器と、光分割器内で反射された光ビームと基準面を一部透過して測定対象面によって反射された光ビームを検出する光検出器とを含んでなる。さらに、拡散面がすりみがきによって加工され、光分割器が立方体型であり、レーザ光源がHe-Neレーザであってビームエキスパンダを通過していない直径0.5〜1.5mmのレーザ光を出力する。なお、基準面の光反射率が4%であり、光透過率が96%であることが好ましい。【選択図】図3a
請求項（抜粋）：
レーザ光源と、
前記レーザ光源からの光を2本の光ビームに分割し、その1本の光ビームをその内部で一部反射させ一部透過させる基準面、および前記残りの光ビームを散乱させる拡散面を有する光分割器と、
前記光分割器内で反射された光ビームと前記基準面を一部透過して測定対象面によって反射された光ビームを検出する光検出器とを含む副共振測定装置。
IPC (3件)：
G11B7/22
, G01B9/02
, G01M11/00
G11B7/22
, G01B9/02
, G01M11/00 T
2F064AA01
, 2F064AA15
, 2F064EE01
, 2F064FF01
, 2F064GG20
, 2F064GG22
, 2F064HH01
, 2F064KK01
, 2G086EE02
, 2G086EE12
, 5D789AA01
, 5D789AA38
, 5D789BA01
, 5D789PA06
出願人引用 (2件)
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国際特許公開第91/16606号パンフレット
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韓国特許公開第1997-0005500号公報
審査官引用 (3件)
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