特許
J-GLOBAL ID：200903067393762473
ATR赤外線スペクトル測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-196210
公開番号（公開出願番号）：特開平9-021747
出願日： 1995年07月08日
公開日（公表日）： 1997年01月21日
要約：
【要約】【目的】 固体サンプルの締め過ぎによるATR結晶体の破損が少なく、固体サンプルの締め加減の調整が容易で均等な締め付け力をかけることのできるATR赤外線スペクトル測定装置を提供する。【構成】 装置本体1Aと、その装置本体1Aの上に着脱自在に取り付けられる台板2と、その台板2上に設けた面精度の高い着座面5に、止め板6により着脱自在に固定されるATR結晶体4と、そのATR結晶体4に上載される固体サンプル8に対して昇降自在なホルダー10と、そのホルダー10を弾発部材13を介して下方に付勢支持する押え板14と、その押え板14を昇降動作させる昇降部材17とを具備している。
請求項（抜粋）：
光源と赤外線スペクトル測定系を内蔵した装置本体と、その装置本体上に着脱自在に取り付けられる台板と、その台板上に設けた面精度の高い着座面に、止め板により着脱自在に固定されるATR結晶体と、そのATR結晶体に上載される固体サンプルに対して昇降自在なホルダーと、そのホルダーを弾発部材を介して下方に付勢支持する押え板と、その押え板を昇降動作させる昇降部材とを具備してなることを特徴とするATR赤外線スペクトル測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 C
, G01N 21/35 Z
