特許
J-GLOBAL ID：200903067401662181
粒度測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-001403
公開番号（公開出願番号）：特開平7-209172
出願日： 1994年01月12日
公開日（公表日）： 1995年08月11日
要約：
【要約】【目的】 粒子に光を照射してMie散乱の測定から粒子の粒径を求める粒度測定装置において、従来はハロゲンランプの光を干渉フィルターや分光器を介して取り出して使用していたため、照射光が極めて微弱であった。そのため、高感度の受光素子が必要である等の欠点があった。本発明はこの欠点を解消することを目的とする。【構成】 光源としてオプティカルパメトリック発振による波長可変レーザを配設する。
請求項（抜粋）：
垂直偏光と平行偏光の光を測定粒子に照射し、それぞれのMie散乱による照射光の進行方向を0度とした散乱角90度の散乱光強度の測定から粒子の粒径を求める粒度測定装置において、この粒度測定装置の光源としてオプティカルパメトリック発振による波長可変レーザを配設して、波長の約1/2の粒径を測定することを特徴とする粒度測定装置。
IPC (2件)：
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