特許

J-GLOBAL ID：200903067406603922

粉末品自動検査装置

発明者： 北村 肇 ,  竹内 勝 ,  吉越 英夫 ,  北井 幹雄 ,  千野 貴史 ,  野上 雄司 ,  矢城 一 ,  加藤 敬介
出願人/特許権者： 信越化学工業株式会社
代理人 (1件)： 小宮 良雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-000797
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201705
出願日： 1993年01月06日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：

【要約】【目的】 粉末品の検査に際し、多検査項目、多数試料であっても人手がかからず、省力化に役立つ粉末品自動検査装置を提供する。【構成】 粉末品自動検査装置は、供給された粉末品試料を小分けした試料の夫々を並列処理する複数の自動検査装置31〜38・40を有し、これらの自動検査装置は、夫々演算制御装置11と51〜18と58・20と60で動作を制御される。演算制御装置10に、供給された粉末品試料に付されている試料情報を読み取る装置4と、これにより読み取った試料情報から演算制御装置10により設定した検査条件情報を小分けした試料に記録する装置5とが接続されている。演算制御装置11〜14・20には小分けした試料に記録された検査条件情報を読み取る装置41〜44・50が夫々連結されている。これらの読取装置41〜44・50により読み取った検査条件情報により、夫々の演算制御装置11と51〜14と54・20と60は各自動検査装置31〜34・40の動作を制御する。

請求項（抜粋）：

供給された粉末品の試料を小分けし、小分けした試料の夫々を並列処理する複数の自動検査装置を有し、複数の演算制御装置のうちの一の演算制御装置に、供給された試料に付されている試料情報を読み取る装置と、これにより読み取った試料情報から当該演算制御装置により設定した検査条件情報を小分けした試料に記録する装置とが接続されており、該複数の演算制御装置のうちの前記とは別な演算制御装置であり、各自動検査装置と接続している演算制御装置に、小分けした試料に記録された該検査条件情報を読み取る装置が連結されており、これにより読み取った検査条件情報により当該演算制御装置が各自動検査装置の動作を制御することを特徴とする粉末品自動検査装置。

IPC (2件)：

G01N 35/02 ,  G01N 35/06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-286960
  
• 特開昭60-004860
  
• 特開平1-129134
  
• 特開平4-326040