伝搬遅延プロファイル測定システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：佐々木宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-164316
公開番号（公開出願番号）：特開平10-013315
出願日： 1996年06月25日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】測定系による反射波を除去し、正確な伝搬遅延プロファイル測定ができる伝搬遅延プロファイル測定システムを得る。【解決手段】 PN符号を発生させるPN符号発生器20と、PN符号を変調して送信する送信器21と、送信器21が送信した信号を受信し、復調して出力する受信器22と、受信器22が出力した信号と、受信側において発生させたPN符号との相関を求めて伝搬遅延プロファイル信号を算出する相関演算器23と、伝搬遅延プロファイル信号から測定系による反射波成分を除去する等化器24とを備えている。

請求項（抜粋）：

擬似ランダム信号を発生させる擬似ランダム信号発生手段と、前記擬似ランダム信号を変調して送信する送信手段と、該送信手段が送信した信号を受信し、復調して出力する受信手段と、該受信手段が出力した信号と、受信側において発生させた擬似ランダム信号との相関を求めて伝搬遅延プロファイル信号を算出する相関演算手段と、前記伝搬遅延プロファイル信号から測定系による反射波成分を除去する等化手段とを備えたことを特徴とする伝搬遅延プロファイル測定システム。

IPC (3件)：

H04B 7/005 , G08C 25/00 , H04B 1/10

FI (3件)：

H04B 7/005 , G08C 25/00 A , H04B 1/10 M

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