特許

J-GLOBAL ID：200903067457061911

放射性同位元素の壊変によって発生する電磁波を用いた構造解析法

発明者： 佐々木 裕次 ,  鈴木 芳生 ,  石橋 整
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-195841
公開番号（公開出願番号）：特開平7-049316
出願日： 1993年08月06日
公開日（公表日）： 1995年02月21日
要約：

【要約】【目的】 試料中のある原子、及び分子に放射性同位元素を置換もしくは、吸着させることにより、励起光なしで、放射性同位元素の壊変によって発生する電磁波を利用してnm精度の構造解析を可能とする。【構成】 試料中のある原子、及び分子に放射性同位元素を置換もしくは吸着させる。放射性同位元素の壊変によって発生してきた電磁波強度の取り出し角分布を測定し、その分布(干渉縞)より、解析対象物中のある原子、及び分子の位置をnm精度で決定する。

請求項（抜粋）：

試料中に含まれる放射性同位元素から発生する電磁波の取り出し角依存性を用いることを特徴とする構造解析法。