特許

J-GLOBAL ID：200903067461173287

はんだ付け状態検査装置

発明者： 林 精一
出願人/特許権者： 日立電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-089143
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273346
出願日： 1993年03月24日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 実装基板に搭載する電子部品のはんだ付けの良,不良を判定する基準は当該部品の種類により変化する。これら条件の変化に容易に対応する。【構成】 電子部品の基板実装後のはんだ付け状態を多段多照明装置により照射し,それぞれの画像を撮像カメラにて撮像し,各段により得られた濃淡階調分布の画像配列データから構成される形状情報データのパターンを,認識判定装置に入力し,学習形階層式パーセプトロンにてニューロ・ファジィコンピュータを構成し,はんだ付け状態を出力し,認識判定検査するはんだ付けの状態検査装置。

請求項（抜粋）：

電子部品の基板実装後のはんだ付け状態を多段多照明装置により照射し、それぞれの画像を撮像カメラにて撮像し,各段により得られた濃淡階調分布の画像配列データから構成される形状情報データのパターンを,認識判定装置に入力し,学習形階層式パーセプトロンにてニューロ・ファジィコンピュータを構成し,はんだ付け状態を出力し,認識判定検査するはんだ付けの状態検査装置。