特許
J-GLOBAL ID：200903067473405833
プログラム品質評価装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-269613
公開番号（公開出願番号）：特開平7-105051
出願日： 1993年09月30日
公開日（公表日）： 1995年04月21日
要約：
【要約】【目的】 コンピュータシステムのプログラムのデバッグにおいて時系列的に抽出されたバグ件数と評価日数およびプログラムステップ数に基づいて、デバッガーのスキルによるバラツキを考慮して残存バグ件数を定量的に予測し、そのプログラムの品質と、いつリリースすべきかを予測可能とする。【構成】 入力手段2による少なくとも複数日分のバグ抽出データを基づいて、不偏分散平方根演算手段3は、時系列的に抽出されたバグ件数と評価日数とから不偏分散平方根Σを求める。この不偏分散平方根Σを基に、残存バグ件数演算手段4は、デバッガーのスキルなどのバラツキを考慮して残存バグ件数を求める。収束予定日数演算手段5は、求めた残存バグ件数からバグ収束までの収束予定日数を演算する。同時に、残存バグ件数を基にプログラムの完成度を完成度演算手段6が演算する。品質ランキング手段7は、この完成度をランク分けし、評価対象プログラムの品質をランク分けして表示手段8で表示する。
請求項（抜粋）：
評価対象プログラムのバグ修正前のステップ数(S)、デバッグ開始後の実働何日目の評価日(D)であるか、その評価日に何件(B)バグを発見したかを入力データとして入力するための入力手段(2)と、該入力手段による少なくとも複数日分の入力データを基に、時系列的に抽出されたバグ件数と評価日数とから不偏分散平方根(Σ)を求める不偏分散平方根演算手段(3)と、この不偏分散平方根を基に残存バグ件数(Z)を演算する残存バグ件数演算手段(4)と、前記残存バグ件数を基にバグ収束までの収束予定日数(T)を演算する収束予定日数演算手段(5)と、前記残存バグ件数を基にプログラムの完成度(TQC)を演算する完成度演算手段(6)と、前記完成度を基に評価対象プログラムの品質をランク分けする品質ランキング手段(7)と、少なくとも前記収束予定日数および評価対象プログラムの品質ランクを表示する表示手段(8)とを備えたプログラム品質評価装置。
IPC (2件)：
G06F 11/34
, G06F 9/06 540
