特許
J-GLOBAL ID：200903067499222656
時間応答測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-102151
公開番号（公開出願番号）：特開2002-296146
出願日： 2001年03月30日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
要約：
【要約】【課題】マーク率が実使用(1/2) に近い状態での時間応答の測定を実現する。【解決手段】クロックに同期した疑似ランダムパターンを変調データとして強度変調された光信号を被測定信号として受ける。サンプリングクロック発生手段2はクロック供給手段1からのクロック1bとの時間的位置関係が変えられるサンプリングクロック2aを出力する。短パルス発生器3とPRBSパターン発生器4は前記サンプリングクロック2aに同期した短パルス列3aと前記疑似ランダムパターンと同じパターンの疑似ランダムパターン信号4aを出力する。被測定信号1a、短パルス列3aおよび疑似ランダムパターン信号4aは乗算手段5で乗算され、平均化手段8で平均化され、時間応答補正手段9で補正される。前記時間的位置関係を変えて得られる相関値8bに基づいて時間応答9aが得られる。
請求項（抜粋）：
クロックに同期した疑似ランダムパターンを変調データとして強度変調された光信号を被測定信号として受光して該被測定信号の時間応答を測定する時間応答測定方法であって、前記クロックとの時間的位置関係が可変であるサンプリングクロックに同期した短パルス列、該サンプリングクロックに同期し前記疑似ランダムパターンと同じパターンを有する疑似ランダムパターン信号および前記被測定信号からそれらの信号の積の信号を生成する段階と、該積の信号を平均化して前記時間的位置関係に対応する相関値を求める段階とを含み、前記時間的位置関係の変化により得られる複数の各時間的位置関係に対応する相関値を求めそれらの相関値に基づいて前記被測定信号の時間応答を得ることを特徴とする時間応答測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 T
, H04B 9/00 K
