特許

J-GLOBAL ID：200903067506983030

光反射測定方法

発明者： 辻 幸嗣 ,  清水 薫 ,  堀口 常雄
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-144408
公開番号（公開出願番号）：特開平8-338786
出願日： 1995年06月12日
公開日（公表日）： 1996年12月24日
要約：

【要約】【目的】 光部品や光伝送路の光反射特性の測定をする光反射測定方法を提供する。【構成】 周波数が一定速度で変化する光波を2分岐し、一方を参照光として用い、一方を被測定光部品に入射し、前記参照光と被測定光部品内からの反射光とのビート信号を解析することによって被測定光ファイバ14の反射特性を測定する光反射測定方法において、測定距離が光源の可干渉長よりも大きい場合に、必要とされる距離分解能、受信ビート信号のスペクトル幅、被測定光部品内での光の群速度を、それぞれΔz,ΔA,vとするとき、光周波数掃引速度γを、γ=v・ΔA/2Δzに設定して、測定する。

請求項（抜粋）：

周波数が一定速度で変化する光波を2分岐し、一方を参照光として用い、一方を被測定光部品に入射し、前記参照光と被測定光部品内からの反射光とのビート信号を解析することによって被測定光部品の反射特性を測定する光反射測定方法において、測定距離が光源の可干渉長よりも大きい場合に、必要とされる距離分解能、受信ビート信号のスペクトル幅、被測定光部品内での光の群速度を、それぞれΔz,ΔA,vとするとき、光周波数掃引速度γを、γ=v・ΔA/2Δzに設定して、測定することを特徴とする光反射測定方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G01M 11/02

FI (2件)：

G01M 11/00 R ,  G01M 11/02 J

引用特許：

出願人引用 (3件)

• ファイバ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-294171   出願人：横河電機株式会社
• 光周波数領域反射測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-279559   出願人：日本電信電話株式会社
• 特開平3-175333