レーザダイオード劣化判定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高橋詔男 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-125288
公開番号（公開出願番号）：特開2000-315836
出願日： 1999年04月30日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：

【要約】【課題】レーザダイオードの劣化を判定するとともに、劣化による光出力の低下を補正する。【解決手段】電源と接地点との間に直列に設けられたレーザダイオードLDの光出力を検出するフォトダイオードPDと、該フォトダイオードPDの出力電流と第一の基準値との差を演算する演算増幅器23と、該演算増幅器23の出力にベースが接続され、前記レーザダイオードと接地点との間に介在してレーザダイオードの駆動電流を制御するトランジスタ25とから構成した。

請求項（抜粋）：

電源と接地点との間に設けられたレーザダイオードの光出力を検出する受光手段と、該受光手段の出力電流と第一の基準値との差を演算する演算手段と、該演算手段の出力にベースが接続され、前記レーザダイオードと接地点との間に介在してレーザダイオードの駆動電流を制御するトランジスタとからなることを特徴とするレーザダイオード劣化判定装置。

Fターム (7件)：

5F073BA02 , 5F073EA29 , 5F073GA03 , 5F073GA12 , 5F073GA14 , 5F073GA35 , 5F073GA38

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平2-268481
特開平3-143126
特開平2-268481

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