特許

J-GLOBAL ID：200903067591866438

キャリヤ-ガス中のサンプル分子の検出方法と装置

発明者： ホルスト-ヘンニンク グロテール ,  ハラルド オーザール ,  ラインホルト タンナー
出願人/特許権者： ドイチェ フォルシュングスアンシュタルト フュア ルフト-ウント ラウムファールト エー.ファウ.
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-305939
公開番号（公開出願番号）：特開平8-222181
出願日： 1995年11月24日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：

【要約】【課題】 共鳴促進複数光子イオン化に基づく質量分析測定において、顕著に感度が高められた方法と装置を提供する。【解決手段】 ノズルを通って真空中で膨張するキャリヤ-ガスによってキャリヤ-ガスの分散流が発生し、キャリヤ-ガス流のイオン化ゾーンにおいてサンプル分子が光子を吸収して選択的にイオン化され、サンプル分子イオンが生成し、サンプル分子イオンは引力電場によって質量分析計に引き込まれ、質量分析計で測定されるキャリヤ-ガス流中のサンプル分子を検出する方法・装置であって、キャリヤ-ガス流の連続体ゾーン、キャリヤ-ガス流の分子ビームゾーン、及び連続体ゾーンと分子ビームゾーンの間の境界が求められ、サンプル分子が、この境界付近でイオン化される。この境界のノズル出口開口部からの距離(xT )が求められ、サンプル分子は約0.5xT 〜約3xT の距離でイオン化される。

請求項（抜粋）：

ノズルを通って真空中で膨張するキャリヤ-ガスによってキャリヤ-ガスの分散流が発生し、キャリヤ-ガス流のイオン化ゾーンにおいてサンプル分子が光子を吸収して選択的にイオン化され、サンプル分子イオンが生成し、サンプル分子イオンは引力電場によって質量分析計に引き込まれ、質量分析計で測定されるキャリヤ-ガス流中のサンプル分子を検出する方法であって、キャリヤ-ガス流の連続体ゾーン(キャリヤ-ガス温度はノズル出口開口部からの距離(x)が長くにつれ低下する)、キャリヤ-ガス流の分子ビームゾーン(ノズル出口開口部からの距離(x)がさらに長くなってもキャリヤ-ガス温度は本質的にさらに低下することはない)、及び連続体ゾーンと分子ビームゾーンの間の境界が求められ、サンプル分子が、連続体ゾーンと分子ビームゾーンの間の境界付近でイオン化されることを特徴とするサンプル分子検出方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭58-157043
  
• 特開昭61-200663