特許

J-GLOBAL ID：200903067613368062

ブリルアン散乱を適用した温度計測装置における光ファイバの敷設構造

発明者： 石岡 昌人
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  風間 鉄也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-266845
公開番号（公開出願番号）：特開2004-101471
出願日： 2002年09月12日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：

【課題】被測定物に歪みが生じた場合であっても、被測定物の温度を精度良く計測すること。【解決手段】本発明は、被測定物40に対して敷設された複数のセンシング用の光ファイバ18内で発生するブリルアン散乱現象の変化に基づいて、被測定物40の温度を計測する温度計測装置における光ファイバ18の敷設構造であって、光ファイバ18を保護管42の内部に収納し、更にこの保護管42の内部に伝導性粘体44を充填することによって、光ファイバ18を保護管42の内部に固定し、この保護管42を被測定物40に対して固定することによって光ファイバ18を敷設する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

被測定物に対して敷設された複数のセンシング用の光ファイバ内で発生するブリルアン散乱現象の変化に基づいて、前記被測定物の温度を計測する温度計測装置における前記光ファイバの敷設構造であって、 前記光ファイバを収納用チューブの内部に収納し、更にこの収納用チューブの内部に伝導性粘体を充填することによって、前記光ファイバを前記収納用チューブの内部に固定し、この収納用チューブを前記被測定物に対して固定することによって前記光ファイバを敷設するようにしたブリルアン散乱を適用した温度計測装置における光ファイバの敷設構造。

IPC (3件)：

G01K11/12 ,  G01M11/00 ,  G02F1/35

FI (3件)：

G01K11/12 F ,  G01M11/00 U ,  G02F1/35

Fターム (10件)：

2F056VF02 ,  2F056VF12 ,  2F056VF17 ,  2G086DD05 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002BA01 ,  2K002CA15 ,  2K002DA10 ,  2K002HA24