特許
J-GLOBAL ID:200903067631517636

電子装置およびラック型電子装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): ポレール特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-208221
公開番号(公開出願番号):特開2008-034715
出願日: 2006年07月31日
公開日(公表日): 2008年02月14日
要約:
【課題】電子装置やラック型電子装置において、温度異常が発生したときの原因を容易にかつ迅速に判定すること。【解決手段】装置内に搭載する電子部品1a,1b,1c・・・毎にその温度を検出する複数の温度センサ2a,2b,2c・・・を取り付ける。また冷却風の入気部6と排気部7の温度を測定する温度センサ2x,2yを取り付ける。制御回路3は、各温度センサの測定した温度データから装置内の温度異常を検知し異常発生の原因とともに報告する。すなわち、電子部品のうち冷却風の入気部に近い側に配置される複数の電子部品(1a,1b)を特定部品とし、特定部品の温度と冷却風の入気部6の温度を比較することにより冷却風の異常の有無を判定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の電子部品を搭載し該電子部品からの発熱を冷却風にて放熱する電子装置において、 上記電子部品毎にその温度を検出する複数の温度センサおよび冷却風の入気部と排気部の温度を測定する温度センサと、 該各温度センサの測定した温度データから当該電子装置内の温度異常を検知し異常発生の原因とともに報告する制御回路とを備え、 該制御回路は、上記電子部品のうち冷却風の入気部に近い側に配置される複数の電子部品を特定部品とし、該特定部品の温度と上記冷却風の入気部の温度を比較することにより上記冷却風の異常の有無を判定することを特徴とする電子装置。
IPC (1件):
H05K 7/20
FI (1件):
H05K7/20 H
Fターム (3件):
5E322AB10 ,  5E322BA05 ,  5E322BB10
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (1件)

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