特許
J-GLOBAL ID：200903067635587272
誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
重信 和男
, 加古 進
, 清水 英雄
, 高木 祐一
, 中野 佳直
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-131432
公開番号（公開出願番号）：特開2007-303919
出願日： 2006年05月10日
公開日（公表日）： 2007年11月22日
要約：
【課題】軸方向及び周方向の2種類のき裂を検出する誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置の提供【解決手段】(a)端子ホルダ122に周方向欠陥用電位差測定端子112を設置しており,端子ホルダ124に軸方向欠陥用電位差測定端子114を設置している。周方向欠陥用電位差測定端子112と軸方向欠陥用電位差測定端子114は、2本の端子の向きが互いに90°となるように設置されている。端子ホルダ駆動カム軸138を回転することで、端子ホルダ駆動カム132は、端子ホルダ122,124を上下に動かしている。また、センサ軸140には、(b)に示すように、斜め方向に誘導コイル142が巻かれている。 このような構成のセンサ部で、誘導コイル142に印加される交流電流により誘起される電位差を2方向同時に計測でき、試験体の内面にある、軸方向や周方向のいずれのき裂も検出できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象の管状試験体の軸方向に対して斜めに巻き線されたコイルと、
互いに90度になるように設置され、前記試験体内面の該軸方向及び周方向に誘起されたそれぞれの電位差を測定するための2組の2本の端子と、
前記コイルに交流電流を印加するための交流電源と、
前記コイルに印加された交流により誘起された、前記2組の2本の端子間の電位差を、軸方向及び周方向に計測するための計測器と
を備え、前記試験体の内面を走査して電位差を計測することで、き裂を検出することを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (11件)：
2G053AA11
, 2G053BA12
, 2G053BA13
, 2G053BC14
, 2G053CA18
, 2G060AA10
, 2G060AE01
, 2G060AF15
, 2G060AG01
, 2G060EA03
, 2G060EA07
