特許

J-GLOBAL ID：200903067691743562

高炉装入物プロフィルの測定方法及び測定装置

発明者： 大野 二郎
出願人/特許権者： 株式会社みどり精密
代理人 (1件)： 石川 英毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-278843
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096298
出願日： 2006年10月12日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
要約：

【課題】高炉炉頂に配した一対の赤外線カメラによる装入物層上面の温度パターン情報から、高炉の三次元的な装入物プロフィルを測定する手段を提供する。【解決手段】高炉内装入物全面からの赤外光を受光する赤外線カメラを用いた二次元温度パターン検出器を一対高炉に配設して、異なる方向からの同一時刻の装入物上面の温度パターン情報を取得し、この両検知器の二次元温度パターンにおいて、等温線上の特徴部分を定め、該特徴部分上の任意の点Pを選び、前記両検知器の画像における前記点Pの位置の対比から、点Pの三次元的位置を算定し、複数の前記特徴部分の位置情報から、炉内の装入物層上面の形状を作図する高炉装入物プロフィルの測定方法及び測定装置。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

高炉の炉肩に配置されて炉内装入物上面のほぼ全体からの赤外光を受光し、その強度を検出する二次元受光センサを備えた一対の赤外線カメラと、該カメラそれぞれの出力から二次元温度パターンを作成する温度パターン検知器を一対高炉に配設して、異なる方向から同一時刻に観測された炉内装入物上面の温度パターンの情報を取得し、 この両検知器の二次元温度パターンにおいて、共通の特徴を有する特徴曲線を定め、該特徴曲線上の任意の点Pを選び、前記両検知器の画像における前記点Pの位置の対比から、点Pの三次元的位置を算定し、 複数の前記特徴曲線の位置情報から、炉内の装入物層上面の形状を作図することを特徴とする高炉装入物プロフィルの測定方法。

IPC (4件)：

G01B 11/245 ,  C21B 7/00 ,  C21B 7/24 ,  G01C 3/06

FI (4件)：

G01B11/245 H ,  C21B7/00 311 ,  C21B7/24 301 ,  G01C3/06 110V

Fターム (31件)：

2F065AA53 ,  2F065CC39 ,  2F065DD02 ,  2F065DD13 ,  2F065EE05 ,  2F065FF05 ,  2F065GG09 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL10 ,  2F065LL30 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS13 ,  2F065UU02 ,  2F112AC06 ,  2F112BA03 ,  2F112BA10 ,  2F112BA18 ,  2F112CA08 ,  2F112DA04 ,  2F112DA21 ,  2F112DA28 ,  2F112FA35 ,  2F112GA01 ,  4K015AD09 ,  4K015KA02 ,  4K015KA03