特許
J-GLOBAL ID：200903067722481723
多点測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-042594
公開番号（公開出願番号）：特開平8-219769
出願日： 1995年02月08日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：
【要約】【目的】 S/N比を低下させることなく、投光手段の投射点を拡大する、すなわち測距点を増やす。【構成】 第1の発光手段42と、第2の発光手段43と、前記第1の発光手段から発せられた光を少なくとも第1の目標方向及び第2の目標方向に分割投射すると共に、前記第2の発光手段から発せられた光を少なくとも前記第2の目標方向及び第3の目標方向に分割投射する為の分割投射手段61,62とを備え、第1の発光手段から発せられた光を少なくとも第1の目標方向と第2の目標方向に分割投射し、前記第2の発光手段から発せられた光を少なくとも前記第2の目標方向と第3の目標方向に分割投射するようにしている。
請求項（抜粋）：
第1の発光手段と、第2の発光手段と、前記第1の発光手段から発せられた光を少なくとも第1の目標方向及び第2の目標方向に分割投射すると共に、前記第2の発光手段から発せられた光を少なくとも前記第2の目標方向及び第3の目標方向に分割投射する為の分割投射手段とを備えた多点測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G01C 3/06 A
, G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
