特許

J-GLOBAL ID：200903067775640777

外観検査装置における傷検査方法

発明者： 美濃口 昭
出願人/特許権者： 東洋通信機株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 均
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-056734
公開番号（公開出願番号）：特開平7-243976
出願日： 1994年03月02日
公開日（公表日）： 1995年09月19日
要約：

【要約】【目的】半透明ガラス製品の表面に存在するヒキ傷を高精度に検出する傷検出方法を提供する。【構成】本発明の傷検査方法は、半透明ガラス製品の表面に存在する傷を検査する方法であって、被検査物の表面の画像を取り込み、検出されたラベルに対して縮退処理を施し、複数のドットからなるラベルを1点に凝縮させる手段と、該凝縮したヒキ傷候補点の内、少なくとも2点のアドレスを算出すると共に、該2点のアドレスから直線を方程式を算出する手段と、前記取り込んだ画像の内、前記算出した直線上の画素の輝度値を判定する手段とからなる。

請求項（抜粋）：

半透明ガラス製品の表面に存在する傷を検査する方法において、被検査物の表面の画像を取り込み、検出されたラベルに対して縮退処理を施し、複数のドットからなるラベルを1点に凝縮させる手段と、該凝縮したヒキ傷候補点の内、少なくとも2点のアドレスを算出すると共に、該2点のアドレスから直線の方程式を算出する手段と、前記取り込んだ画像の内、前記算出した直線上の画素の輝度値を判定する手段と、を備えたことを特徴とする外観検査装置における傷検査方法。