特許
J-GLOBAL ID:200903067837152812
ウェーハの形状評価方法及びウェーハ並びにウェーハの選別方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石原 詔二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-280500
公開番号(公開出願番号):特開2003-086646
出願日: 2001年09月14日
公開日(公表日): 2003年03月20日
要約:
【要約】【課題】ウェーハの形状品質を従来のSFQR等とは違う観点から評価するウェーハの形状評価方法及び露光装置などでトラブルの少ないウェーハ並びにそのような良好な品質を有するウェーハの選別方法を提供する。【解決手段】ウェーハの中心部からエッジ部までのウェーハ形状プロファイルを所定の角度間隔でウェーハ全周にわたって複数求め、各プロファイル毎に基準線を算出するための第1の領域をウェーハ中央側に設定し、該第1の領域における基準線を算出し、更に該第1の領域外のウェーハ外周側に第2の領域を設定し、該第1の領域で算出された基準線を該第2の領域まで外挿し、該第2の領域の形状(実測値)と第2の領域内における該基準線(基準値)との差(実測値-基準値)を解析し、この値の最大値を表面特性A及び最小値を表面特性Bとして算出し、これらウェーハ全周にわたって得られた複数の表面特性A及び表面特性Bからウェーハの外周部形状均一性を評価するようにした。
請求項(抜粋):
ウェーハの中心部からエッジ部までのウェーハ形状プロファイルを所定の角度間隔でウェーハ全周にわたって複数求め、各プロファイル毎に基準線を算出するための第1の領域をウェーハ中央側に設定し、該第1の領域における基準線を算出し、更に該第1の領域外のウェーハ外周側に第2の領域を設定し、該第1の領域で算出された基準線を該第2の領域まで外挿し、該第2の領域の形状(実測値)と第2の領域内における該基準線(基準値)との差(実測値-基準値)を解析し、この値の最大値を表面特性A及び最小値を表面特性Bとして算出し、これらウェーハ全周にわたって得られた複数の表面特性A及び表面特性Bからウェーハの外周部形状均一性を評価することを特徴とするウェーハの形状評価方法。
IPC (2件):
H01L 21/66
, G01B 11/30 101
FI (3件):
H01L 21/66 J
, H01L 21/66 P
, G01B 11/30 101 A
Fターム (24件):
2F065AA47
, 2F065BB03
, 2F065CC19
, 2F065FF01
, 2F065FF10
, 2F065GG05
, 2F065HH04
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ18
, 2F065QQ42
, 4M106AA01
, 4M106BA10
, 4M106BA20
, 4M106CA24
, 4M106CA48
, 4M106DH01
, 4M106DH03
, 4M106DH11
, 4M106DH31
, 4M106DH60
, 4M106DJ20
, 4M106DJ21
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