特許
J-GLOBAL ID:200903067874016619

コンピュータもしくはコンピュータ部品のテスト装置およびテスト方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 文廣 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-166252
公開番号(公開出願番号):特開平9-016428
出願日: 1995年06月30日
公開日(公表日): 1997年01月17日
要約:
【要約】【目的】 コンピュータハードウェアもしくはハードウェアのコンピュータ部品をテストするテスト装置およびテスト方法に関し,テストを能率良く行うことを目的とする。【構成】 テスト手段と表示装置と入力装置を備えてコンピュータもしくはコンピュータ部品をテストするテスト装置において,テスト手段はテスト内容入力およびテスト実行を指定するテスト内容入力画面を作成するテスト内容入力画面作成手段と,テスト内容表示画面に入力されたテスト内容を設定するテスト内容設定手段とを備え,テスト実行後にテスト内容入力画面に戻る構成を持つ。
請求項(抜粋):
テスト手段と表示装置と入力装置を備えてコンピュータもしくはコンピュータ部品をテストするテスト装置において,テスト手段はテスト内容入力およびテスト実行を指定するテスト内容入力画面を作成するテスト内容入力画面作成手段と,テスト内容入力画面に入力されたテスト内容を設定するテスト内容設定手段とを備え,テスト実行後にテスト内容入力画面に戻ることを特徴とするコンピュータもしくはコンピュータ部品のテスト装置。
IPC (2件):
G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22
FI (2件):
G06F 11/22 310 R ,  G06F 11/22 310 A

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