特許
J-GLOBAL ID：200903067894192928
静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
高橋 省吾
, 稲葉 忠彦
, 村上 加奈子
, 中鶴 一隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-181240
公開番号（公開出願番号）：特開2009-103683
出願日： 2008年07月11日
公開日（公表日）： 2009年05月14日
要約：
【課題】外部から印加した電圧値と静電気帯電量との関係を明確にする静電気帯電試験装置を得る。【解決手段】絶縁体4と、絶縁体4に接する金属板3と、金属板3に対向するように絶縁体4の中に埋め込まれ、絶縁体4から外方に延長された配線5と、配線5の一端に接続され、電子機器6を接続できる絶縁体ソケット7とを備え、金属板3へ所定の電圧を印加することによって金属板3に対向する配線5に誘導された帯電量を、絶縁体ソケットを介して測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
絶縁体と、前記絶縁体に接する金属板と、前記金属板に対向するように前記絶縁体の中に埋め込まれ、前記絶縁体から外方に延長された配線と、前記配線の一端に接続され、電子機器を接続できる絶縁体ソケットとを備え、
前記金属板へ所定の電圧を印加することによって前記金属板に対向する配線に誘導される帯電量を測定することを特徴とする静電気帯電試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R29/12 G
, G01R31/26 Z
2G003AB01
, 2G003AC08
, 2G003AH04
, 2G003AH05
, 2G003AH07
