特許

J-GLOBAL ID：200903067898276638

測量システム

発明者： 上園 忍 ,  若代 滋 ,  白井 雅実
出願人/特許権者： ペンタックス株式会社
代理人 (2件)： 松浦 孝 ,  小倉 洋樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-146235
公開番号（公開出願番号）：特開2004-347516
出願日： 2003年05月23日
公開日（公表日）： 2004年12月09日
要約：

【課題】測量機とカメラとの間の位置関係を簡単かつ迅速に算出する。【解決手段】デジタルスチルカメラが内蔵された測量機10において、測量対象物の画像を撮影する。撮影された画像上において4つの基準点を任意に選択し、各基準点の位置を測量する。手持ちカメラ20により測量対象物の画像を撮影する。内蔵カメラで撮影された画像データと基準点の測量データ、手持ちカメラで撮影された画像データを測量機10に転送する。内蔵カメラで撮影された画像上において基準点を中心とするテンプレート画像を抽出する。テンプレート画像に基づいて、手持ちカメラで撮影された画像の中から対応候補点を検出する。測量座標から求められる画像座標と対応候補点の画像座標のメリット関数を算出する。メリット関数が最小となる対応候補点の組を基準点に対する真の対応点とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機と、 前記測量対象物に関する第1の画像を撮影し、前記測量機に対する外部評定要素が既知の第1の撮像手段と、 前記測量対象物に関する前記第1の画像とは異なる第2の画像を撮影し、前記測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段と、 前記第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を前記第2の画像から検出する対応候補点検出手段と、 前記測量座標と前記対応候補点の画像座標とに基づいて、前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置を特定する対応点特定手段と を備えることを特徴とする測量システム。

IPC (1件)：

G01C15/00

FI (1件)：

G01C15/00 103Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 測量装置および測量方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-169895   出願人：大成建設株式会社
• ステレオ画像の測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-093886   出願人：株式会社トプコン
• 計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-143445   出願人：大成建設株式会社
• 特開平2-130409