特許
J-GLOBAL ID：200903067917775926

サンプルの分析を改善するための分散特性、サンプル解離及び/又は圧力制御を用いた移動度ベースの装置及び方法

発明者：
ミラー, ラーナン エー.

ミラー, ラーナン エー. について

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ナザロフ, アーキンジョン ジー.

ナザロフ, アーキンジョン ジー. について

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カウフマン, ローレンス エー.

カウフマン, ローレンス エー. について

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キャメロン, ダグラス ビー.

キャメロン, ダグラス ビー. について


出願人/特許権者：
サイオネックス コーポレイション

サイオネックス コーポレイション について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-541718
公開番号（公開出願番号）：特表2007-513340
出願日： 2004年11月24日
公開日（公表日）： 2007年05月24日
要約：
本発明は、一般に、サンプル分析のためのイオン移動度ベースのシステム、方法及び装置に関する。本発明は、例えば、分散特性;サンプル解離;及び/又は、限定はされないがフロー・チャンネル/フィルター電界状態中の変動のようなサンプル処理における変動を使って、サンプル収集、フィルタ、検知、測定、識別及び/又は分析(「分析」と総称)の改善を提供する。このような条件に、以下に限定はされないが、圧力;温度;湿度;電界の強さ、デューティサイクル及び/又は周波数;電界電圧振幅、周波数及び/又はデューティサイクル;検知器バイアス電圧大きさ及び/又は極性;及び/又はフィルタ電界補償電圧の大きさ及び/又は極性を含めることができる。
請求項（抜粋）：
サンプル分析の方法であって、 A.少なくとも第一及び第二サンプル処理条件を、それぞれ、第一及び第二の複数の値にわたって変化をさせる工程と、 B.該第一及び第二の複数の値にわたる電界を流れ通るサンプルのイオン強度を検知する工程と、 C.該第一及び第二サンプル処理条件に対応する少なくとも2つの次元を3次元表現のうちに有する第一3次元表現の中に、該サンプル処理条件の各々に対し検知されたイオン強度を編成する工程と、 D.該第一3次元表現の少なくとも一部に、少なくとも部分的に基づいて該サンプルを分析する工程とを 含む方法。
IPC (2件)：
G01N 27/68 ,  H01J 49/40
FI (2件)：
G01N27/68 Z ,  H01J49/40
Fターム (13件)：
2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA18 ,  2G041EA03 ,  2G041EA05 ,  2G041FA05 ,  2G041FA07 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041HA01 ,  2G041JA02 ,  2G041KA01 ,  2G041MA01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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