特許
J-GLOBAL ID:200903067946249206
誘電率測定方法および誘電率測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岸田 正行 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-068753
公開番号(公開出願番号):特開平11-264869
出願日: 1998年03月18日
公開日(公表日): 1999年09月28日
要約:
【要約】【課題】 レーダー波により地中埋設物を探査する時に、深度を得るため等に必要な誘電率を正確に測定できる誘電率測定方法を提供する。【解決手段】 電磁波を誘電体内に投射し、前記誘電体内に埋設された反射体からの反射波を受信して得られた深さ方向を含む2次元平面のデータを画像処理し、前記データの波長伝搬速度に相当のパラメータを変更し、反射体の画像が最も鮮明となったときの前記パラメータから前記誘電体の誘電率を求める。
請求項(抜粋):
電磁波を誘電体内に投射し、前記誘電体内に埋設された反射体からの反射波を受信して得られた深さ方向を含む2次元平面のデータを画像処理し、前記データの波長伝搬速度に相当のパラメータを変更し、反射体の画像が最も鮮明となったときの前記パラメータから前記誘電体の誘電率を求めることを特徴とする誘電率測定方法。
IPC (4件):
G01S 13/88
, G01N 22/00
, G01N 22/02
, G01R 27/26
FI (5件):
G01S 13/88 G
, G01N 22/00 Y
, G01N 22/00 S
, G01N 22/02 C
, G01R 27/26 H
引用特許:
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