特許

J-GLOBAL ID：200903067975497430

超音波による欠陥規模評価方法

発明者： 武捨 義則 ,  道口 由博
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立建機株式会社
代理人 (1件)： 武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-083944
公開番号（公開出願番号）：特開平9-274019
出願日： 1996年04月05日
公開日（公表日）： 1997年10月21日
要約：

【要約】【課題】 受信強度によらず、超音波ビーム径より大きな球状または円柱状の欠陥の直径を精度よく評価できるようにする。【解決手段】 欠陥の上方の検査体15の探傷面3を超音波探触子1で走査して、欠陥10、20に対してアレイ探傷子1の走査方向の上流側と下流側から超音波ビーム4、5を当て、欠陥からの反射波の強度分布を測定し、測定された強度分布のピーク間距離Xから、欠陥の直径dを評価する。

請求項（抜粋）：

被検査体表面を超音波探触子で走査しながら被検査体内の欠陥に対して超音波を照射し、受信した欠陥からの反射波の状態から欠陥の規模を評価する超音波による欠陥規模評価方法において、前記欠陥から探傷面または超音波探触子走査面に向けた垂線に対して前記超音波探触子の走査方向の上流側および下流側で超音波探触子を走査して欠陥に対して超音波ビームを照射し、受信した超音波ビームの欠陥からの反射波の強度分布を求め、求められた反射波の強度分布のピーク間距離から欠陥の規模を評価すること、を特徴とする超音波による欠陥規模評価方法。

IPC (3件)：

G01N 29/10 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/26 501

FI (3件)：

G01N 29/10 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/26 501