特許

J-GLOBAL ID：200903068133466451

液体クロマトグラフ質量分析装置

発明者： 田中 靖文
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-219417
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048183
出願日： 1996年07月31日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：

【要約】【課題】 イオンスプレーの有無やイオンスプレーの噴射位置に応じて装置の各部を適宜制御することができる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。【解決手段】 赤外線発光部35と赤外線受光部36a及び36bから成るイオンスプレー検出部34がイオンスプレーの有無及び位置を検出する。制御装置37はイオンスプレーが検出されている時にのみ四重極への電圧の印加等を行なう。また、制御装置37はイオンスプレーの位置が最適となるようにニードル駆動部40によりニードル18の位置を調節する。

請求項（抜粋）：

液体クロマトグラフからの溶離液を霧化及びイオン化してニードルからイオンスプレーとして噴射することにより質量分析装置へイオン化した試料を導入するインタフェイスを備える液体クロマトグラフ質量分析装置において、上記イオンスプレーが噴射される空間に向けてモニタ光を発する発光部と、上記モニタ光を受けてその強度に応じた信号を出力する受光部とを含むイオンスプレー検出手段を備えることを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置。

IPC (6件)：

G01N 27/62 ,  G01N 1/28 ,  G01N 21/35 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/26

FI (7件)：

G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 X ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 30/72 G ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/26 ,  G01N 1/28 T