特許
J-GLOBAL ID：200903068152039688
測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-046861
公開番号（公開出願番号）：特開平8-338770
出願日： 1988年12月26日
公開日（公表日）： 1996年12月24日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、測定装置において、広範囲に及ぶ被測定領域の任意の測定場所の温度,湿度,さらに被測定領域の温度分布を正確に測定し得、さらに測定値の測定感度や分解能を高め、データの高速化にも寄与することを目的とする。【解決手段】 光源11から光ファイバ22の入射端へ光パルスSを入射し、この光パルスSの入射によって光ファイバ22内で発生するラマン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光が戻ってくるまでの時間と戻ってきた信号の強さを信号処理装置14で解析して温度または湿度または温度分布を測定する装置において、被測定領域20の各測定部21a,21b,...にまたがって光ファイバ22を連続的に配置すると共に、これら各測定部21a,21b,...の位置を特定するために光ファイバ22の各測定部21a,21b,...に対応して位置を示す基準用信号を印加する基準用信号印加手段23a,23b,...を設けた測定装置。
請求項（抜粋）：
光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、この光信号の入射によって光ファイバ内で発生するラマン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光が戻ってくるまでの時間と戻ってきた信号の強さとを信号処理装置で解析して温度または湿度または温度分布を測定する測定装置において、被測定領域内の各測定部にまたがって前記光ファイバを連続的に配置するとともに、これら各測定部の位置を特定するために前記光ファイバの各測定部に対応して位置を示す基準用信号を印加する基準用信号印加手段を設けたことを特徴とする測定装置。
IPC (3件)：
G01K 11/12
, G01M 11/00
, G01N 21/65
G01K 11/12 F
, G01M 11/00 R
, G01N 21/65
