特許

J-GLOBAL ID：200903068214862742

X線検出蛍光板およびX線検出蛍光板による検査方法

発明者： 西山 陽二 ,  鈴木 伸二 ,  岩田 敏 ,  安藤 護俊
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 福島 康文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-063016
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264799
出願日： 1992年03月19日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：

【要約】【目的】X線像を可視化するためのX線蛍光板に関し、輝尽性蛍光体を用いたX線検出蛍光板において、X線撮像と同時に撮像位置や撮像状態などを確認できるようにすることを目的とする。【構成】X線照射と同時に発光する同時蛍光体層1と、X線像を蓄積する輝尽性蛍光体層2を1枚の薄板3に塗布してX線検出蛍光板6を構成する。そして、このX線検出蛍光板6の輝尽性蛍光体層2側を被検体側に配置し、X線照射と同時に、同時蛍光体層1側から蛍光撮像系で撮像を行なった後、当該X線検出蛍光板6の輝尽性蛍光体層2側に赤外線や熱などの再生エネルギーを照射して蛍光を発生させ、これを光電変換して表示し、精密検査に供する。

請求項（抜粋）：

X線照射と同時に発光する同時蛍光体層(1) と、X線像を蓄積する輝尽性蛍光体層(2) を1枚の薄板(3) に塗布してなることを特徴とするX線検出蛍光板。

IPC (4件)：

G21K 4/00 ,  G01T 1/00 ,  G01T 1/20 ,  G03C 5/16