特許
J-GLOBAL ID：200903068245742052
地質評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 良徳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-293715
公開番号（公開出願番号）：特開平7-146232
出願日： 1993年11月24日
公開日（公表日）： 1995年06月06日
要約：
【要約】【目的】 地質すなわち地盤や岩盤の状況を客観的にかつ精度良く評価し得る有効な手段を提供する。【構成】 切羽1等の地質を評価するべき対象面に検査光を照射する光源4と、その検査光の反射光を受光してスペクトル分析するための分光器5と、それら光源および分光器を支持して評価対象面に沿って移動させるアーム3等の走査手段と、分光器による分析結果に基づき地質を評価するコンピュータ6等の評価手段とを具備する。
請求項（抜粋）：
地盤や岩盤の表面を観察してその状況を評価する地質評価装置であって、評価対象面に検査光を照射する光源と、その検査光の反射光を受光してスペクトル分析するための分光器と、それら光源および分光器を支持して評価対象面に沿って移動させる走査手段と、前記分光器による分析結果に基づき地質を評価する評価手段とを具備してなることを特徴とする地質評価装置。
IPC (2件)：
G01N 21/27
, E21D 9/06 301
